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このサイトでは半導体やガラスを精密に割る装置を紹介、販売しています。 >English Site
試料 | Siウェハ、SiC、マスク、サファイヤ基板、石英、ガラス、液晶基板 |
最大試料サイズ | 195mm×400mm |
ケガキ精度 | 30ミクロン |
試料厚さ | 6.5mm以内 |
刃の移動可能距離 | 250mm |
ケガキ刃の横方向調整 | 12mm |
ケガキ刃 | 超硬ローラー、ダイヤモンドローラー |
ケガキ圧 | 手で加重 |
顕微鏡のモニター倍率 | 約150倍(モニターに依存) |
顕微鏡の表示 | ノートPC |
顕微鏡の高さ調整 | マニュアル(補助部品あり) |
画像ソフトでできる事 | 画像保存、距離測定 |
製品外形(PC含まず) | W200×H140×D300mm |
製品重量(PC含まず) | 2.4kg |
試料の固定方法 | シリコンシートで固定 |
試料の機械的な回転の可否 | できない |
割るのにかかる時間 | 3分 |
初めの調整にかかる時間 | 10分 |
価格 | お問い合わせください |
操作方法
試料のの固定方法はシートで固定するのでケガキ線を入れる方向を変えるには、シートからはがして手で回す必要があります。
初めの調整としては顕微鏡の高さ調整をしてサンプル表面をきれいに見えるようにします。
その後、2-3mmケガいてみてケガいた中心と顕微鏡の中心を合わせれば調整終わりです。合わせて10分ぐらいあればできますが、精度よく割りたい時は何度か繰り返すことになります。
つまり、治具をを組み立てた後や厚みの違うサンプルをケガく時に調整が必要になります。
メリット
この装置の強みは30ミクロンというかなりの精度を持っているのに安価だということです。通常この精度のけがきを入れるには300-400万の装置が必要です。通常100万円台では100ミクロンほどしか狙えません。
一つの研究室で十分購入可能で使いたい時にすぐに使えるのが利点です。SEMのサンプルの10mm角の試料の切り出しやArイオンミリングで削る前の前処理として最適です。